- Device
- Technische Universität Darmstadt
Sentech SE 850
- Materialwissenschaften
- Structuring and Processing of Materials
- Gerätetyp
- Ellipsometer
- Gerätebezeichnung
- Sentech SE 850
Gerätebeschreibung
Ellipsometer für VIS und NIR.
Einsatzbereich
Messung von Brechungsindex und Schichtdicken von transparenten Schichten.
